C-V法向列相液晶弹性常数测量系统的设计与实现

摘要：

本文提出一种通过改进偏压测试液晶电容,准确求得弹性常数的方法,并设计开发了测试系统.该系统由计算机控制PCI-1712产生偏压波形并实时采集数据,由单片机、D/A转换器等基于伏安法测试电容.初测结果表明,本测试系统可较准确测得向列相液晶的阈值电压、介电常数和弹性常数等参数.

关键词： 向列相液晶 弹性常数 介电常数 阈值电压

作者: 孔祥建 王百金 李文明 荆海

作者单位: 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 北方液晶工程研究开发中心,吉林 长春 130033 中国科学院研究生院,北京 100039 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所 北方液晶工程研究开发中心,吉林 长春 130033

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国平板显示学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 17-20

在线出版日期: 2008-03-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）