超连续谱光源辐照面阵CCD的干扰效应研究
本研究利用超连续谱光辐照可见光面阵CCD探测器,获得了面阵CCD的光斑饱和图像,串扰图像以及全屏饱和图像,并对所得到的实验数据进行数值拟合。实验研究和理论分析结果表明,入瞳处激光功率密度达到1.3×10-10W/cm2时,可见光面阵CCD图像出现饱和点,入瞳处激光功率密度达到2.4×10-4W/cm2时,CCD图像有串扰现象,并得出饱和像元数的对数与入瞳处激光功率密度的对数成近线性关系。
电荷耦合 激光辐射 图像串扰 激光密度
罗群 程湘爱 刘璞 饶鹏 甘秋果
国防科学技术大学光电科学与工程学院 长沙 410073
国内会议
长沙
中文
38-42
2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)