基于Polytec激光测振仪的光存储设备振动测试分析系统

摘要：

针对光存储没备振动频率高的特点,采用Polytec激光测振仪拾取振动信号,并给出了基于Polytec激光测振仪的光存储设备振动测试分析系统.可用于硬盘盘片、磁头滑块、折臂组件、光盘盘片等振动测试,为光存储设备动态特性的测试和分析建立了良好的实验基础.

关键词： 激光测振 光存储 振动测试 系统设计

作者: 向家伟

作者单位: 桂林电子科技大学机电工程学院,桂林,541004

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国兵工光学与光电子学学术交流会

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 108-109

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）