基于图象识别的高抛光透射面缺陷检测

摘要：

构建了基于图像识别技术的高抛光透射面缺陷检测系统模型，探讨了高抛光面缺陷图谱分析的技术要点，提出了高抛光透射面图像获取时的图像过曝光或低曝光问题的解决办法。在MATLAB环境下进行图像数字化处理及特征提取，实现了高抛光透射面缺陷图谱的计算机自动分析。

关键词： 高抛光透射表面 图像分析 缺陷检测 图象识别 图谱分析 数字化处理

作者: 郭启军 钱新恩 潘炼

作者单位: 武汉科技大学信息科学与工程学院,湖北 武汉,430081 湖北汽车工业学院电气工程系,湖北 十堰,442002

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国自动化学会中南六省(区)第26届学术年会

会议地点: 湖北十堰

会议语种:中文

在线出版日期: 2008-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）