新型吸附剂性能表征及脱Hg0实验研究
以SiO2 为载体，采用化学方法对壳聚糖(CTS)进行改性，制备了两种含氯和硫的多孔CTS/SiO2吸附剂。采用比表面积分析仪、场发射扫描电子显微镜、傅里叶变换红外光谱仪和X 射线衍射仪等对吸附剂进行了详细表征。应用VM3000 在线测汞仪作为检测手段，在固定床实验台架上对该类吸附剂进行脱Hg0 实验研究。实验结果表明复合后的CTS/SiO2 吸附剂比表面有较大提高，硅烷化有利于吸附剂含硫含氯官能团的增加，引入的含硫官能团在吸附剂表面没有氯官能团均匀。该类吸附剂脱汞效率受吸附温度、O2 浓度影响较大。硅烷化CTS/SiO2 吸附剂120℃时的脱汞效率达80％以上，为80℃时的3～4 倍。
多孔SiO2吸附剂 壳聚糖 脱汞 吸附剂性能表征
张安超 向军 孙路石 胡松 井娟丽 殷庆栋 邱建荣
华中科技大学煤燃烧国家重点实验室,湖北 武汉 430074
国内会议
西安
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2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）