对泡沫和硬蒙皮的粘贴夹层结构的新无损检测方法—采用错位散斑干涉技术得到答案
有许多方法期望对多层硬蒙皮和低密度泡沫芯粘接结构的检测比错位散斑干涉技术更适合。通过笔者研究表明,甚至对硬蒙皮和低密度芯的夹层结构的检测,采用错位散斑干涉技术是最好的答案。采用加热的方法以及蒙皮上的温度延仲似乎消除了相对于错位散斑干涉技术的某些缺点,像检测与大气相通的缺陷或对弯曲的或非正常形状试件所采用激励方法。本文就此进行了介绍。
无损检测 错位散斑干涉技术 夹层结构
王幼玲
北京安和灵捷科技有限责任公司
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2002-09-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)