星用电子元器件辐射可靠性初步研究

摘要：

抗辐射加固设计是航天器可靠性设计的重要内容之一,本文首先引入了“辐射可靠性”的概念,提出了抗辐射加固总体优化设计的技术途径,然后,描述了器件辐射可靠性与抗辐射性能之间的量化关系,在此基础上提出了器件抗辐射性能指标分配方法, 为抗辐射加固总体优化设计工作提供了技术依据。

关键词： 辐射可靠性 总剂量效应 单粒子效应 星用电子元器件 抗辐射加固设计 可靠性设计

作者: 杨钧

作者单位: 上海卫星工程研究所, 200240

会议类型: 国内会议

会议名称: 第7届国际可靠性、维修性、安全性学术会议(The Seventh International Conference on Reliability,Maintainability and Safety)

会议地点: 北京

会议语种:中文

在线出版日期: 2007-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）