预浓缩技术离子色谱法测定硬盘部件表面痕量阴离子

摘要：

本文建立了一种采用预浓缩技术.离子色谱法测定硬盘部件表面痕量阴离子的方法。通过预浓缩技术去浓缩富集测定痕量阴离子的磁头样品。该方法选择的色谱条件是：IonPacAS12A离子交换柱，等度淋洗，抑制型电导检测。该方法具有灵敏度高，选择性好，操作简单等特点。

关键词： 硬盘部件 痕量阴离子 预浓缩技术 离子色谱法

作者: 王凤娟

作者单位: 希捷电子有限公司，无锡 214000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第12届全国离子色谱学术报告会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 366-368

在线出版日期: 2008-11-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）