高纯度次磷酸钠产品中的杂质阴离子分析

摘要：

高纯次磷酸钠在电容器生产领域有着广泛的应用，本文讨论了高纯度次磷酸钠产品中CI-和SO42-的离子色谱测定方法，获得了较低的检出限和良好的回收率，该方法能够满足纯度99％以上的次磷酸钠样品的杂质含量分析，解决了高纯度次磷酸钠产品杂质中阴离子含量分析困难的现状。

关键词： 次磷酸钠 杂质阴离子 离子色谱法

作者: 侯彩丽

作者单位: 罗地亚-恒昌(张家港)(Rhodia)精细化工有限公司，张家港市 215617

会议类型: 国内会议

会议名称: 第12届全国离子色谱学术报告会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 317-319

在线出版日期: 2008-11-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）