白光LED荧光粉的性能表征与测量

摘要：

基于蓝光LED芯片和荧光粉制备白光LED的技术已经成为半导体白光照明非常重要的技术路线，并实现了商业化。芯片与荧光粉的匹配优劣是影响白光L ED性能的重要因素；针对这一问题，本文提出了LED荧光粉的性能表征与测量方法。采用了一种双分光式荧光粉测量系统，得到了荧光粉在单色波长激发下的量子效率；通过与蓝光LED芯片光谱加权积分，得到了蓝光LED芯片激发的白光LED光谱、光度及色度性能参数。实验结果表明，通过荧光粉光谱激发量子效率，可以有效地评价LED芯片激发的白光LED荧光粉的光学性能。

关键词： 半导体照明 白光LED 荧光粉 光学性能

作者: 李莉 牟同升 张万生

作者单位: 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州 310027 浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027;杭州浙大三色仪器有限公司,浙江 杭州 310013 中国电子集团公司第十三研究所,河北石家庄 050051

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国LED产业与技术研讨会

会议地点: 江苏镇江

会议语种:中文

页码: 113-118

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）