发光二极管失效物理的探讨

摘要：

本文阐述了二个常用的LED器件失效物理模型，采用这些模型对几个LED失效模式和失效机理进行分析，并说明相应的可靠性改善方法，给出LED可靠性试验条件及其可靠性筛选原理。

关键词： 发光二极管 失效物理 失效模式 失效机理 可靠性

作者: 蔡伟智

作者单位: 厦门三安电子有限公司(361009),厦门

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国LED产业与技术研讨会

会议地点: 江苏镇江

会议语种:中文

页码: 81-85

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）