670nm LED材料的MOCVD外延生长
介绍了670 nmLED材料的结构与制备方法,重点论述了量子阱室温光荧光谱线宽的分析,指出线宽减小是应变量子阱轻重空穴谱线分离的结果,而不是由于量子阱界面质量改进的结果。同时介绍了DEz n的掺杂技术和掺杂结果,获得了较高的空穴密度。器件结果表明,可以用5个压应变量子阱的有源区并且采用DEZn掺杂制作出符合产品要求的670 nmLED外延材料。
LED材料 外延生长 DEZn掺杂 制备方法 量子阱结构
刘英斌 林琳 陈宏泰 袁风坡 李云
中国电子科技集团总公司第十三研究所,石家庄,050051
国内会议
江苏镇江
中文
61-64
2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)