特定装置上散射本底中子谱的测量方法

摘要：

研究了D-T中子源与实验装置距离较近时，获得实验装置上散射本底中子谱的实验方法。利用实验屏蔽与模拟计算相结合，根据闪烁探测器和MCNP/4C程序获得的结果，最终得到实验装置上的散射本底中子谱。结果表明，这种处理方法是可行的。

关键词： 特定装置 中子能谱测量 中子本底 MCNP程序 D-T中子源 闪烁探测器

作者: 朱通华 刘荣 鹿心鑫

作者单位: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所四川绵阳621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 377-380

在线出版日期: 2008-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）