前置电路对GM计数管性能影响的研究

摘要：

本文进行了大量GM计数管性能测试实验，通过改变前置电路中的电阻阻值，信号放大跟随器等方法。取得不同前置电路条件下的实验数据，来分析前置电路对计数管的电性能、辐射探测性能的影响。结果表明。选择合适的前置电路能够很好的改善GM计数管性能.

关键词： GM计数管 前置电路 性能测试实验 电阻阻值 信号放大跟随器

作者: 张皓 施寿朋

作者单位: 防化研究院,北京102205

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 乌鲁木齐

会议语种:中文

页码: 353-355

在线出版日期: 2008-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）