电触头钎焊质量的超声成像无损检测与评价

摘要：

常规无损检测方法难以适应于电触头的钎焊质量无损检测。本文介绍一种钎焊接头超声成像无损检测与评价的技术，以及钎着率的计算方法。超声无损检测C扫描图像，可以反映钎焊缺陷及其分布特征，并自动计算出钎着率。

关键词： 钎焊接头 钎着率 C扫描 无损检测

作者: 潘希德 王裕文 薛锦

作者单位: 西安交通大学焊接研究所,陕西,西安,710049

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电工技术学会低压电器专业委员会第十四届学术年会

会议地点: 温州

会议语种:中文

页码: 337-339

在线出版日期: 2008-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）