电子剪切散斑干涉技术用于无损检测时的条纹图解释方法

摘要：

通过分析电子剪切散斑干涉方法的原理，指出了经典理论用于无损检测图像解释时存在的问题。该文提出了“对点离面位移差”理论作为更一般的条纹解释方法，并对剪切散斑干涉法的灵敏度、缺陷尺寸测量等问题进行了解答。

关键词： 电子剪切散斑干涉 条纹图解释 对点离面位移差 位移梯度

作者: 郭广平 王自明 刘永斌

作者单位: 北京航空材料研究院六室

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国机械工程学会无损检测分会第七届年会/国际无损检测技术交流研讨会

会议地点: 汕头

会议语种:中文

页码: 584-587

在线出版日期: 1999-10-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）