频率选择性Nakagami-m衰落信道中OFDM系统的性能分析
介绍了OFDM的基本原理,给出多径Nakagami-m衰落信道模型并对其频域响应抽样的概率密度函数(pdf)进行仿真分析。在此基础上,进一步分析了OFDM系统在多径慢衰落Nakagami-m信道中的BER性能。仿真结果表明:用另一个具有与时域不同衰落参数的Nakagarmi-m分布不能有效近似多径Nakagami-m信道脉冲响应频域抽样的分布曲线,并且OFDM系统的BER性能依赖于抽头个数L,而随着参数m的增加系统性能并不总是在提高。
性能分析 Nakagami-m OFDM系统 频率选择性 衰落信道模型 频域响应抽样
王莉
南京邮电大学 通信与信息工程学院,江苏 南京,210003
国内会议
厦门
中文
359-364
2008-11-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)