存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

摘要：

针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试.

关键词： 芯片设计 可测性设计 存储器内建自测试

作者: 殷弼君 黄伟平

作者单位: 华东计算技术研究所,上海,200233

会议类型: 国内会议

会议名称: 华东计算技术研究所建所50周年庆学术交流会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 122-124

在线出版日期: 2008-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）