系统级测试中BIT的应用及其验证技术

摘要：

目前,机内测试(BIT)是实现系统级测试的重要手段.本文从系统级BIT的研究现状.总体体系结构、核心技术等几个方面展开深入研究,分析了目前实现系统级BIT所需解决的关键技术和难点问题,并对BIT验证过程中的关键技术——故障注入技术进行了分析和研究.

关键词： 可测试性设计 虚警 验证评估 机内测试 系统级测试

作者: 刘丽亚 冯振勋

作者单位: 中国航天科工集团公司测控中心,北京 100037

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 200-206

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）