基于边界扫描和BIST的电路板可测试性设计技术研究

摘要：

本文主要阐述了两种先进的可测试性设计技术:边界扫描技术和BIST(内建自测试)技术在电路板可测试性设计中的应用.文中分析了两种技术的原理,讨论其可测试性设计方法,详细说明了某电路板的可测性设计过程,最后的测试结果充分证明了将两种可测试性设计技术结合应用在板级电路的测试设计中,可以更好的实现对高密度电路板的全面检测.

关键词： 边界扫描 可测试性设计 电路板

作者: 杜影 王石记 安百岳 徐鹏程

作者单位: 北京航天测控技术开发公司,北京 100037

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 65-68

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）