SOC的可测性设计与测试技术的发展与展望

摘要：

随着集成电路工艺技术和设计方法的提高,集成电路的规模越来越大,使得原来要由多个芯片才可以实现的复杂系统被集成在单个芯片上成为可能，文中介绍了SOC的概念与测试难题，SOC的测试结构，SOC测试优化中的关键技术。

关键词： 可测性设计 集成电路 测试技术 测试结构 片上系统

作者: 彭喜元 俞洋

作者单位: 哈尔滨工业大学 自动化测试与控制系,黑龙江 哈尔滨 150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 20-30

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）