CuW触头着色探伤缺陷的研究
重点研究了CuW触头产品着色探伤缺陷的种类、缺陷材料机械性能、缺陷材料断口形貌宏观分析,提出了CuW触头着色探伤缺陷的判定原则和方法.材料性能试验结果表明,着色探伤缺陷产品中CuW疏松、CuW-Cu界面裂纹、Cu端裂纹和Cu端疏松的材料抗拉强度、硬度低于无缺陷材料,不符合CuW触头的技术要求:CuW-Cu界面气孔的材料抗拉强度与无缺陷材料相当,符合CuW触头的技术要求.通过对CuW触头着色探伤缺陷断口组织形貌宏观分析,发现着色探伤缺陷部位是CuW触头的内部缺陷组织,材料缺陷具有一定的深度,在材料受力时预先开裂,产生了应力集中,减少了材料的受力面积,使CuW触头的机械性能降低,这是导致CuW触头着色探伤缺陷机械性能低的原因.
铜钨合金 CuW触头材料 着色探伤缺陷 粉末冶金 断口形貌 机械性能
吴文安 时代 韩会秋 李志鹏 肖春林
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2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）