复合材料内部缺陷的短波长X射线衍射扫无损检测技术

摘要：

本文实验研究了一种无损检测轻元素材料内部缺陷的短波长X射线衍射扫描技术。实验检测结果表明：短波长X射线衍射扫描无损检测铝材料内部缺陷的空间分辨率优于2.51p/mm(即可检测缺缺陷线度小于0.2mm),缺陷定位准确,该技术可用于轻元素复合材料内部缺陷的无损检测,且检测缺陷的空间分辨率还可以大大提高。

关键词： 复合材料 材料缺陷 无损检测 X射线扫描

作者: 郑林 何长光 彭正坤 李迪凡 张津

作者单位: 中国兵器工业第五九研究所 重庆 400039 北京科技大学 北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年(第十届)中国科协年会

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 143-146

在线出版日期: 2008-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）