单片机实现的集成芯片逻辑功能测试仪

摘要：

本文介绍了MCS-51系列单片机实现的集成芯片逻辑功能测试仪,主要包括硬件部分和软件部分。硬件部分的设计主要是单片机电路的设计,软件部分设计包括上位机的程序设计和下位机的程序设计。

关键词： 逻辑测试仪 集成电路 逻辑部件 微处理机

作者: 安马杰 郭书军

作者单位: 北方工业大学信息工程学院 北京 100041

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十五届信息论学术年会暨第一届全国网络编码学术年会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 1209-1213

在线出版日期: 2008-07-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）