基于ODC的缺陷管理系统的研究

摘要：

缺陷管理系统用于集中跟踪软件测试过程中发现的错误,是添加、修改、排序、查寻、存储软件测试错误的数据库程序。本文讨论了ODC缺陷分类模型,并建立了一个完整的缺陷定义模型,然后在此基础上提出新的软件缺陷管理系统的总体结构。与传统缺陷管理系统相比,本系统能很大的提高软件开发的效率,改进测试流程。

关键词： 软件开发 软件测试 缺陷分类 程序语言

作者: 刘涛 陈行益

作者单位: 北京邮电大学计算机科学与技术学院 100876

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十五届信息论学术年会暨第一届全国网络编码学术年会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 361-366

在线出版日期: 2008-07-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）