国内电工电子产品有关长霉试验标准简析

摘要：

该文简要分析了国内电工电子产品长霉试验标准的主要技术指标及异同点。

关键词： 电子产品 长霉试验 标准

作者: 冯源 吴洵颖

作者单位: 部第五研究所环境工程分所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子产品防护技术”98研讨会

会议地点: 庐山

会议语种:中文

页码: 134～137

在线出版日期: 1998-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）