以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

摘要：

对日益复杂的消费产品不断增长的需求引发了应用于消费类电子，汽车，工业和通讯领域的混合信号集成电路的需求急剧上升。本文讨论了混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活得适应未来正在形成的测试需求。

关键词： 集成电路 芯片设计 电路测试 混合信号器

作者: John Lukez

作者单位: Credence System公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003中国国际集成电路研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 223-228

在线出版日期: 2003-03-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）