Sn取代对NiZn铁氧体薄膜微结构和磁性能的影响
本文通过溶胶-凝胶法制备了Sn离子取代的Ni0.5+Zn05SnxFe2-2xO4铁氧体薄膜。 在空气中700℃退火并保温60分钟后，通过XRD来研究薄膜晶体结构和确定晶格常数，原子力显微镜观察薄膜表面形貌，振动样品磁强计研究薄膜磁性能。XRD分析表明：Sn离子取代量在0到0.20时，随着Sn离子取代量的增加，薄膜晶格常数增加。相对于未取代的薄膜样品而言，Sn离子取代后，薄膜晶粒尺寸增大，但同时薄膜表面粗糙度增加。 非磁性Sn离子的加入，使得饱和磁化强度降低，但矫顽力增加。
Nizn铁氧体薄膜 溶胶-凝胶法 晶体结构 磁性能 制备方法
聂小亮 兰中文
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室，成都 610054
国内会议
乌鲁木齐
中文
199-205
2008-06-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）