基于BIST的动态可重构FPGA的延时故障测试方法

摘要：

FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。本文重点介绍了动态重构FPGA及其基本结构、特点；在此基础上本文探讨了基于BIST技术的FPGA延时故障测试方法，并成功应用于Lanice ORCA2C系列FPGA中。实验证明，该BIST方法是可行且有效的，并且不需要昂贵的ATE设备。

关键词： FPGA器件 动态可重构 延时故障 BIST技术 测试方法

作者: 杜社会 何怡刚

作者单位: 湖南大学电气与信息工程学院 湖南长沙 410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届电工理论学术年会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 160-165

在线出版日期: 2008-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）