大规模集成电路相关测试标准的剖析

摘要：

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。本文介绍IEEE1149.1-1990到IEEE1149.6-2003、IEEE1450、IEEE1500、IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准，总结了集成电路测试标准的特点，并对以后集成电路测试标准的发展给出了预测。

关键词： 集成电路 测试标准 可测性设计 故障诊断

作者: 杜社会 刘美荣 阳辉 方葛丰

作者单位: 湖南大学电气与信息工程学院湖南长沙410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二十届电工理论学术年会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 11-17

在线出版日期: 2008-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）