基于BIT和ATE组合测试的硬件测试性设计

摘要：

随着机载电子产品的广泛应用，对它的可靠性的要求也越来越高，因此测试性设计变得极为重要。在产品的设计阶段不仅要做到功能实现的完备，同时要考虑设计完成之后的产品测试与故障诊断。从工程设计的角度详细阐述了硬件模块在完成功能的基础上对测试性设计的实现，从实现BIT和ATE组合测试方面，介绍了对于具体功能电路实现测试性的设计方法。

关键词： 测试性设计 机内测试 ATE测试 组合测试 机载电子产品 产品测试 故障诊断

作者: 郑毓琦 陈峥 徐奡

作者单位: 中国航空计算技术研究所,陕西 西安 710068

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年航空试验测试技术峰会

会议地点: 南昌

会议语种:中文

页码: 180-184

在线出版日期: 2008-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）