原子吸收光谱法测定智能卡芯片中金

摘要：

提出了一种简便、快速测定智能卡芯片中金的分析方法，用稀硝酸溶解智能卡芯片，金与基体分离后，用王水溶解直接于原子吸收光谱仪上测定其含量，对测定条件及试样处理方法进行了考察，并进行了方法比对，结果基本一致，测定结果的相对标准偏差在0.80％～2.24％之间。

关键词： 原子吸收光谱法 智能卡芯片 金含量 分析方法

作者: 李莎莎 朱文中

作者单位: 上海材料研究所 检测中心,上海 200437

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008年全国化学及光谱分析学术会议

会议地点: 兰州

会议语种:中文

页码: 40-41

在线出版日期: 2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）