光谱发射率测量技术

摘要：

本文阐述了光谱发射率在航天、航空、国防、军事及国民经济各领域中的重要作用和意义，分析了近年来材料光谱发射率测量技术的研究发展现状，介绍了基于红外傅里叶分析光谱仪建立的光谱发射率测量系统，进而描述了发射率应用情况，展望了发射率测量技术目前存在的问题及发展趋势。

关键词： 表面辐射 光谱测量 红外光谱 发射率测量

作者: 戴景民 王宗伟

作者单位: 哈尔滨工业大学 电气工程及自动化学院，黑龙江 哈尔滨 150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届红外成像系统仿真、测试与评价技术研讨会

会议地点: 哈尔滨

会议语种:中文

页码: 39-44

在线出版日期: 2008-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）