激光自混合干涉法纳米颗粒粒径的测量

摘要：

纳米颗粒的独特性质往往由纳米颗粒的粒径决定，因此纳米颗粒粒径的测量具有重要的意义。本文中展示了一种新的纳米颗粒粒径的测量技术，即激光自混合干涉技术(SMI)。 与著名的纳米颗粒测量技术PCS和PCCS比较，该技术结构简单、紧凑、系统易准直且成本低。在粒径反演中，本文对传统的Kaczmarz算法进行了改进，确保了反演结果的准确性，本文的实验结果证实了激光自混合干涉技术结合改进的投影算法测量纳米颗粒粒径的可行性。

关键词： 激光自混合干涉技术 纳米颗粒 颗粒粒径 投影算法 粒径测量

作者: 王华睿 沈建琪 蔡小舒 于海涛 魏月环

作者单位: 上海理工大学 颗粒及两相流测量技术研究所，上海 200093,徐州师范大学 物理与电子工程学院，江苏 徐州 221116 上海理工大学 颗粒及两相流测量技术研究所，上海 200093

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008国际粉体技术与应用论坛暨全国粉体产品与设备应用技术交流大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 308-312

在线出版日期: 2008-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）