EBIT束线成像及束流密度测算

摘要：

本文介绍了在EBIT中,使用狭缝为电子束成像的过程，同时论述了对采集的像的修正和计算分析,以及对于采集图像和数据分析中存在的误差的分析，计算得到了EBIT电子束的束流密度，并讨论了在计算模拟中,针对EBIT和本实验所需要的一些特别设定。

关键词： 电子束成像 狭缝成像 卷积修正 束流密度

作者: 杨洋 吴师名 陈卫东 HUTTON R 邹亚明

作者单位: 复旦大学现代物理研究所教育部应用离子束物理重点实验室,上海,200433

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国原子与分子物理学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 105-107

在线出版日期: 2007-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）