Si6N2团簇结构与性质的密度泛函理论研究

摘要：

本研究用密度泛函理论(DFT)中的杂化密度泛函B3LYP方法, 在6-31G(d)的水平上对Si6N2团簇的可能结构进行了几何结构优化和电子结构计算, 得到了16个可能的异构体。Si6N2团簇的最稳定结构是有4个Si-N键和4个Si-Si键的三维结构。自然键轨道方法分析成键性质的结果表明,Si-N键中Si原子向N原子有较大的电荷转移,因此Si-N原子间有较强的电相互作用；最强的IR和Raman谱峰分别位于1359.14cm-1和1366.29cm-1处，并计算了Si6N2团簇的最稳定结构的极化率和超极化率。

关键词： 分子结构 结构化学 分子团簇 密度泛函理论

作者: 张材荣 陈玉红 蒲忠胜 王道斌 元丽华 许广济 陈宏善

作者单位: 兰州理工大学理学院,兰州,730050;兰州理工大学有色金属合金及加工教育部重点实验室,兰州,730050 兰州理工大学理学院,兰州,730050 兰州理工大学有色金属合金及加工教育部重点实验室,兰州,730050 西北师范大学物理与电子工程学院,兰州,730070

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国原子与分子物理学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 99-101

在线出版日期: 2007-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）