一种用于SoC测试的调度算法及实现

摘要：

SoC设计中实现IP核测试复用的芯片结构一般包含用于传送测试矢量和测试响应的片上测试存取机制TAM和实现测试控制的芯片测试控制器。本文针对一种SoC分析了基于测试总线的芯片测试结构，详细阐述了SoC设计中测试调度的概念，并给出了能实现测试调度的芯片测试控制器的设计。

关键词： SoC测试 测试调度 芯片测试控制器 IP核测试复用

作者: 须自明 王国章 于宗光

作者单位: 江南大学信息工程学院,江苏 无锡,214000 江南大学信息工程学院,江苏 无锡,214000;中国电子科技集团第58研究所,江苏 无锡,214035 中国电子科技集团第58研究所,江苏 无锡,214035;江南大学信息工程学院,江苏 无锡,214000

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十三届青年学术年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 192-195

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）