基于8051核的数模混合SoC测试与仿真

摘要：

基于8051核的数模混合系统芯片在性能得到很大提高，同时对该类芯片的测试也面临许多新的挑战。本文结合目前已有的多种可测试性技术，如扫描测试、内建自测试等在芯片内分别予以实现，并利用混合仿真工具对芯片进行仿真验证。

关键词： 系统芯片 可测试性设计 数模混合电路 8051核 扫描测试 内建自测试

作者: 魏敬和 虞致国 徐睿 罗静

作者单位: 中国电子科技集团第58研究所,江苏 无锡 214035

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十三届青年学术年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 243-248

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）