SOC混合信号测试难题的解决策略

摘要：

缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题。本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法。介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点，讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性。阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用。为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法。

关键词： 混合信号 IEEE 1149.4 可测性设计 内建自测试 信号测试总线 DFT方法 BIST技术 SOC嵌入式内核测试电路

作者: 谭永红

作者单位: 柳州运输职业技术学院 广西 柳州 545007

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届国际电子测试与测量专业研讨会暨2008质量认证与测试技术峰会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 38-42

在线出版日期: 2008-04-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）