飞利浦PW-2400荧光仪真空系统故障分析

摘要：

X荧光光谱分析仪是一种具有高性能光谱系统、数据处理系统、较高灵敏度的X荧光分析仪器，广泛用于质量控制及研究开发的分析任务中。本文主要针对飞利浦PW-2400荧光仪真空系统故障形成原因、故障排除方法以及如何预防提出看法。以供大家参考。

关键词： 荧光光谱分析仪 真空系统 故障分析

作者: 王伟琦 朱新仁 朱建刚

作者单位: 宝山钢铁股份公司宝钢分公司 设备部,上海 201900

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国冶金自动化信息网2008年年会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 467-469

在线出版日期: 2008-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）