开关电源磁性元件损耗、温升与绝缘研究
通过对磁性元件的损耗分析，构建了总损耗模型，该模型的磁芯损耗考虑了波形因素，铜损耗考虑了高频率对损耗的影响，用交流电阻损耗代替直流损耗，使得总损耗计算值更接近实际。对该模型求解极值，推导了最小损耗时的磁通密度与线圈匝数计算方法。通过对损耗、温升与绝缘关系的讨论，提出了提高磁芯元件功率密度设计方法。
开关电源 磁性元件 损耗模型 磁芯损耗 磁通密度
顾公兵 李网生 沈坚
南京电子技术研究所(南京 310013)
国内会议
合肥
中文
50-53
2007-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）