微流控芯片连续分离过程中样品稀释的研究

摘要：

本文通过建立微流控芯片的沟道模型及分离时沟道内流场的仿真，分析了连续分离过程中样品稀释的原因及其产生的影响。通过实验验证了该仿真结果并在仿真的基础上修改了了分离时的电参数，有效地抑制了样品稀释的现象。

关键词： 微流控芯片 连续分离 样晶稀释 流场仿真

作者: 陈刚 刘冲 徐征 李经民

作者单位: 辽宁省微纳米技术及系统重点实验室,大连,116023 辽宁省微纳米技术及系统重点实验室,大连,116023 大连理工大学精密与特种加工技术教育部重点实验窒,大连,116023

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国微全分析系统学术会议

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 88-89

在线出版日期: 2007-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）