硅铁的X射线荧光光谱分析

摘要：

采用X射线荧光光谱法测定硅铁中Si、Mn、P、Cr、Al、Ca的含量，通过研究硅铁的分析条件及制样条件以便更好的建立工作曲线，测定其精密度及准确度，完全满足生产要求。

关键词： 硅铁 XKF 荧光光谱仪 X射线荧光光谱法

作者: 张春燕 吴志鸿

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 64-66

在线出版日期: 2007-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）