X射线荧光光谱法测定冶炼锡炉渣中多种成分

摘要：

采用硼酸衬底直接压片法对锡冶炼炉渣粉末进行制样，X射线荧光光谱法测定炉渣中Al2O3,SiO2,FeO,CaO,MgO，Pb，Sn，Zn。对元素之间的干扰采用ARL9400 WinXRF2.0软件中的Trail-Lachancc模型进行校正。方法的相对标准偏差在0.43％～2.58％之间，与滴定法和原子吸收光谱法的测定值相对误差在0.47％～7.62％之间，方法可满足生产快速分析的要求。

关键词： 荧光光谱仪 X射线荧光光谱法 粉末直接压片 锡炉渣 炉渣成分 光谱分析

作者: 陈林

作者单位: 云锡股份有限公司冶炼分公司,云南 个川 661000

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 48-50

在线出版日期: 2007-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）