X荧光光谱熔融法测定氧化铁皮中TFe、S、P、SiO2

摘要：

本文试验了用X荧光光谱熔融法分析氧化铁皮中的TFe、S、P、SiO2成分，对分析条件进行了试验摸索，确定了优化分析条件。

关键词： 荧光光谱仪 X荧光光谱熔融法 光谱测量 铁皮 氧化成分

作者: 刘青桥 王志

作者单位: 华菱湘钢科技开发中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 12-15

在线出版日期: 2007-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）