光无源器件偏振相关损耗测试方法研究
随着高速大容量光网络的发展，偏振相关损耗(PDL)已经成为光无源器件的一项重要标准指标。在偏振不受限制且不会随机改变的光网络中，器件的PDL可能会出现出人意料的累积，从而降低网络传输质量，甚至导致网络故障。本文介绍了目前广泛使用的测试无源光器件PDL的方法：偏振态扫描法和目勒(Mueller)矩阵法，并通过试验对这两种方法进行了比较。试验结果显示偏振扫描法能够更有效、准确的进行PDL的测试，但其对设备及环境等要求较高；目勒矩阵法扫描速度快，适合多波长测量及生产线应用。
光无源器件 偏振态扫描法 目勒矩阵法
李健 姚和军 张志新 熊利民 王慧敏
中国计量科学研究院 北京100013
国内会议
杭州
中文
237-240
2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）