X射线荧光光谱法测定结晶器保护渣中八组份

摘要：

通过采用XRF融片法测定保护渣中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、Fe2O3、Na2O、K2OH和F八组份的测定，研究了样片制备方法、试验的分析条件、工作曲线的配制及方法精密皮和准确度，获得了令人满意的结果，优于了相应化学分析检测标准规定的精密度。

关键词： XRF融片法 结晶器 保护渣 组份分析 荧光光谱仪 X射线荧光光谱法

作者: 丁明 李小杰 沈克 周德云 齐郁 单保进 刘俊

作者单位: 武汉钢铁股份有限责任公司质量检验中心 湖北武汉 430080 汉钢铁股份有限责任公司质量检验中心 湖北武汉 430080

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年直读光谱仪及X荧光光谱仪用户技术交流会

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 98-101

在线出版日期: 2007-09-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）