界面介质层对GaN基LED漏电流的影响
在LED电极欧姆接触中,载流子在金属电极和半导体间有不同的传输机制,通过载流子在金属半导体界面传输机制的模拟,讨论了界面介质层及其势垒对器件串联电阻和漏电流的影响,介质层电阻比起LED的串联电阻小的多,可以忽略不计;但是随着器件的老化,介质层及其所含的缺陷会产生相当大的漏电流,使器件的可靠性和稳定性下降,也为LED的失效机理提供了理论依据。
发光二极管 GaN基 界面介质层 欧姆接触 漏电流
李军 范广涵
华南师范大学光电子材料与技术研究所 广东广州 510006
国内会议
广州
中文
212-216
2007-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)