干涉检测数据抗振动影响的方法研究

摘要：

在光学元件的抛光阶段,通常采用干涉仪检测光学元件的面形数据,对加工工作提供指导意见。移相干涉术易受环境振动的干扰,获得的波前相位的干涉图信息不完整,难以准确给出光学元件表面的干涉数据。为了利用干涉仪检测数据给出被测光学元件面形上的各点准确数据,采用等精度测量消除随机误差的方法,对多次检测数据求取平均值以获取被测光学元件面形的准确数据。针对一块Ф1200mm口径的圆形光学元件的实验表明这种方法可以较为有效地消除检测中振动因素的影响。

关键词： 光学元件 面形检测 干涉仪 等精度测量

作者: 陈伟 伍凡

作者单位: 西安科技大学 通信与信息工程学院,陕西 西安 710054 中国科学院光电技术研究所,四川 成都 610209

会议类型: 国内会议

会议名称: 二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 230-233

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）