圆形标志点的亚像素定位及其应用

摘要：

标志点定位是三维形貌测量的关键技术之一,其精度在很大程度上决定着系统的测量精度。其中,圆形标志点以其定位精度高、易于识别的优点得到了广泛的应用。结合Canny边缘检测、目标识别、亚像素边缘检测等技术,提出了一种可用于对复杂背景下的圆形标志点进行亚像素定位的方法。仿真实验证明该方法可以保证0.02像素的定位精度。随后,给出了一种利用圆形标志点进行深度像匹配的实例。

关键词： 圆形标志点 亚像素定位 深度像匹配 三维形貌测量 边缘检测

作者: 殷永凯 刘晓利 李阿蒙 彭翔

作者单位: 深圳大学 光电工程学院,广东深圳 518060

会议类型: 国内会议

会议名称: 二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 47-50

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）